Za uspešno uporabo materialov v elektroniki je ključno temeljito razumevanje njihovih strukturnih lastnosti do atomske ravni. Mladi raziskovalec se bo specializiral za delo na presevnem elektronskem mikroskopu z atomsko ločljivostjo. Raziskave bodo vključevale karakterizacijo raznovrstnih funkcijskih oksidnih materialov, uporabljajoč napredne tehnike elektronske mikroskopije kot je vrstični presevni elektronski mikroskop z matrični detektor 4D STEM, ki omogoča analizo različnih strukturnih napak, zaznavanje polj napetosti, opazovanje porazdelitev naboja ter proučevanje dinamičnih odzivov na zunanje dražljaje. Mladi/a raziskovalec/raziskovalka bo imel/a priložnost sodelovati z ekipo izkušenih in mladih raziskovalcev na področju materialov, bo imel/a priložnosti za interdisciplinarno sodelovanje z znanstveniki s področij simulacij in računanja, svoje rezultate bo predstavljal/a na domačih in na mednarodnih konferencah in imel/a možnost dodatnega izobraževanja v tujini.
Prof. dr. Andreja Benčan Golob
Prof. dr. Andreja Benčan Golob je zaposlena na Odseku za elektronsko keramiko na Institutu Jožef Stefan in poučuje na Mednarodni podiplomski šoli Jožefa Stefana. Njena raziskovalna dejavnost je osredotočena na strukturne študije piezoelektričnih materialov, pri čemer uporablja različne metode elektronske mikroskopije, vključno z vrstično presevno elektronsko mikroskopijo na atomski ravni.
Več informacij: https://www-k5.ijs.si/sodelavci/doc-dr-andreja-bencan-golob/
Raziskovalni program: Multifunkcijski materiali in naprave: od kvantnega do makro nivoja
Tema usposabljanja: 4D STEM feroelektrikov